缺陷改善管理系统 (xDMS)

xDMS 是 eXcellent Defect Management System 缺陷改善管理系统的缩写。我们的专业团队为客户重新整合 Defect 量测数据，让客户可以在xDMS交互式的接口中进行数据分析，而且分析的结果可以进行连贯分析(Drill-Down Analysis)与缺陷分布图 (Defect MAP)、 缺陷照片(Defect image)等等作进一步的交叉分析。并透过流程图式的分析手法，搭配分析设定的可储存性、可重制性来达到分析标准化分析以及分析自动化的目的。

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xDMS 与 xVidas 可以无缝接轨整合，让缺陷分析与良率分析可以相互关联。利用 xVidas 的多站点多参数同时分析的能力，快速找出缺陷造成质量变异问题的真因 (Root Cause)。当然，利用缺陷数据作为分析目标，搭配使用炜晶独创的共通性分析算法找出缺陷产生站点或机台也是轻而一举的事。

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