#6 : xDMS
缺陷改善管理系統
xDMS 是 eXcellent Defect Management System 缺陷改善管理系統的縮寫。我們的專業團隊為客戶重新整合 Defect 量測資料，讓客戶可以在xDMS互動式的介面中進行資料分析，而且分析的結果可以進行連貫分析(Drill-Down Analysis)與缺陷分佈圖 (Defect MAP)、 缺陷照片(Defect image)等等作進一步的交叉分析。並透過流程圖式的分析手法，搭配分析設定的可儲存性、可重製性來達到分析標準化分析以及分析自動化的目的。
xDMS 與 xVidas 可以無縫接軌整合，讓缺陷分析與良率分析可以相互關聯。利用 xVidas 的多站點多參數同時分析的能力，快速找出缺陷造成品質變異問題的真因 (Root Cause)。當然，利用缺陷資料作為分析標的，搭配使用煒晶獨創的共通性分析演算法找出缺陷產生站點或機台也是輕而一舉的事。
